Sensor and measurement method using one-dimensional nanostructures
WO2010003625
Art A1
14. Januar 2010
Anmelder: ETH Zurich 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010003625
- Aktenzeichen
- EP09776991
- Anmeldetag
- 7. Juli 2009
- Veröffentlichung
- 14. Januar 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N27/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ETH Zurich
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
ETH Zürich
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, Schweizer Hochschule mit Forschungsschwerpunkten in Natur-, Ingenieur- und Materialwissenschaften.
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