Electronic component holding device and electronic component testing device with the same
WO2010004623
Art A1
14. Januar 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010004623
- Aktenzeichen
- EP08777960
- Anmeldetag
- 8. Juli 2008
- Veröffentlichung
- 14. Januar 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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