Testing device, testing method, and phase shifter

WO2010004754 Art A1 14. Januar 2010

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010004754
Aktenzeichen: EP09794201
Anmeldetag: 9. Juli 2009
Veröffentlichung: 14. Januar 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/319G11C29/56

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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