Position measuring method, and exposure method and device

WO2010004900 Art A1 14. Januar 2010

Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010004900
Aktenzeichen: EP09794346
Anmeldetag: 29. Juni 2009
Veröffentlichung: 14. Januar 2010
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/027G03F9/00H01L21/68

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Nikon Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Optik & Fototechnik

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