System for aligning patterns on a substrate using stencil lithography
WO2010010224
Art A1
28. Januar 2010
Anmelder: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), Universitat Autónoma De Barcelona (UAB), École Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) 🇪🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010010224
- Aktenzeichen
- EP09800100
- Anmeldetag
- 24. Juli 2009
- Veröffentlichung
- 28. Januar 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/68C23C14/04G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Universitat Autónoma De Barcelona (UAB)
École Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) - Land
- 🇪🇸 Spanien
🇪🇸
Consejo Superior de Investigaciones Científicas
Größte staatliche Forschungseinrichtung Spaniens mit Sitz in Madrid, tätig in nahezu allen Wissenschaftsbereichen von Naturwissenschaften bis Geisteswissenschaften. Die Institution (CSIC) betreibt zahlreiche Forschungszentren im ganzen Land.
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