Total reflection fluorescence observation device

WO2010010751 Art A1 28. Januar 2010

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010010751
Aktenzeichen: EP09800267
Anmeldetag: 20. Mai 2009
Veröffentlichung: 28. Januar 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G02B21/16G01N21/64

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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