Method and apparatus for determining phase sensitivity of an accelerometer based on an analysis of the harmonic components of the interference signal
Anmelder: Korea Research Institute of Standards and Science, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Kim, Seung-Woo 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010021421
- Aktenzeichen
- EP08793438
- Anmeldetag
- 22. August 2008
- Veröffentlichung
- 25. Februar 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01P21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Korea Research Institute of Standards and Science
Korea Advanced Institute of Science and Technology
Kim, Seung-Woo - Land
- 🇰🇷 Südkorea
Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.
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Südkoreanische technische Universität und Forschungsinstitution mit Fokus auf Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologieentwicklung, unter anderem in Robotik und Elektronik.
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