Method and apparatus for determining phase sensitivity of an accelerometer based on an analysis of the harmonic components of the interference signal

WO2010021421 Art A1 25. Februar 2010

Anmelder: Korea Research Institute of Standards and Science, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Kim, Seung-Woo 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010021421
Aktenzeichen: EP08793438
Anmeldetag: 22. August 2008
Veröffentlichung: 25. Februar 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01P21/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Korea Research Institute of Standards and Science
Korea Advanced Institute of Science and Technology
Kim, Seung-Woo
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 KAIST

Südkoreanische technische Universität und Forschungsinstitution mit Fokus auf Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologieentwicklung, unter anderem in Robotik und Elektronik.

1.309 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von