Method of testing analog circuitry in an integrated circuit device

WO2010023583 Art A1 4. März 2010

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010023583
Aktenzeichen: EP09786929
Anmeldetag: 13. August 2009
Veröffentlichung: 4. März 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/316G01R31/3167G01R31/319

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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