Test apparatus and test method

WO2010026641 Art A1 11. März 2010

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010026641
Aktenzeichen: EP08810059
Anmeldetag: 4. September 2008
Veröffentlichung: 11. März 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G11C29/56

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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