Total-reflection fluorescent x-ray analysis device, and total-reflection fluorescent x-ray analysis method
WO2010026750
Art A1
11. März 2010
Anmelder: Kyoto University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010026750
- Aktenzeichen
- EP09811280
- Anmeldetag
- 2. September 2009
- Veröffentlichung
- 11. März 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/223
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kyoto University
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kyoto University
Renommierte japanische Universität mit breiter Grundlagenforschung in Naturwissenschaften, Medizin und Ingenieurwesen.
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