Probe pin contact checking apparatus and liquid crystal substrate inspection apparatus

WO2010029637 Art A1 18. März 2010

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010029637
Aktenzeichen: EP08810613
Anmeldetag: 12. September 2008
Veröffentlichung: 18. März 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/00G01R31/26G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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