Testing device, testing method, circuit system, power supply device, power supply evaluation device, and method for emulating power supply environment
WO2010029709
Art A1
18. März 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010029709
- Aktenzeichen
- EP09812858
- Anmeldetag
- 3. September 2009
- Veröffentlichung
- 18. März 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28G11C29/56
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
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