Method for substantially uniform copper deposition onto semiconductor wafer
WO2010031215
Art A1
25. März 2010
Anmelder: ACM Research (Shanghai) Inc. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010031215
- Aktenzeichen
- EP08800869
- Anmeldetag
- 16. September 2008
- Veröffentlichung
- 25. März 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C25D5/02C25D5/18C25D21/12C25D17/00H01L21/288
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ACM Research (Shanghai) Inc.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
ACM Research (Shanghai)
ACM Research (Shanghai) ist die chinesische Tochtergesellschaft des US-notierten Halbleiterausrüsters ACM Research mit Sitz in Shanghai, der Reinigungs- und Beschichtungsanlagen für die Chipfertigung herstellt. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter- und elektrische Bauelemente sowie Metallurgie- und Verfahrenstechnik. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2007 bis 2025 ab.
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