Sample measurement device by means of confocal microscope and method therefor

WO2010032567 Art A1 25. März 2010

Anmelder: Hitachi Kokusai Electric Inc. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010032567
Aktenzeichen: EP09814412
Anmeldetag: 10. August 2009
Veröffentlichung: 25. März 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01C3/06G01B11/02G02B21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi Kokusai Electric Inc.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi

Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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