Quantitative evaluation method and device for zeta potential, ph or temperature distribution at wall surface, and quantitative visualization method and device for surface modification
WO2010041560
Art A1
15. April 2010
Anmelder: Keio University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010041560
- Aktenzeichen
- EP09819095
- Anmeldetag
- 25. September 2009
- Veröffentlichung
- 15. April 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/64G01K11/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Keio University
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Keio University
Die Keio University ist eine private Universität in Tokio, Japan, die in zahlreichen Fachrichtungen von Wirtschaft bis Ingenieurwissenschaften lehrt und forscht.
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