Synchronous type impulse immunity evaluation device

WO2010044488 Art A1 22. April 2010

Anmelder: NEC Corporation, Renesas Electronics Corporation, Hanwa Electronic Ind. Co., Ltd., Nec Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010044488
Aktenzeichen: EP09820661
Anmeldetag: 14. Oktober 2009
Veröffentlichung: 22. April 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/30G01R31/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: NEC Corporation
Renesas Electronics Corporation
Hanwa Electronic Ind. Co., Ltd.
Nec Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

19.509 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Renesas Electronics

Japanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Tokio, spezialisiert auf Mikrocontroller, analoge Bauelemente und Halbleiterlösungen unter anderem für die Automobil- und Industrieelektronik.

1.103 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von