Sample holder for measuring residual stress and method for quantitatively analyzing crystal phase using the same

WO2010044544 Art A2 22. April 2010

Anmelder: Korea Research Institute of Standards and Science, Chung-Ang University Industry-Academy Cooperation Foundation 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010044544
Aktenzeichen: EP09820694
Anmeldetag: 4. September 2009
Veröffentlichung: 22. April 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Korea Research Institute of Standards and Science
Chung-Ang University Industry-Academy Cooperation Foundation
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Research Institute of Standards and Science

Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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