Electronic device and method for manufacturing the same
WO2010046997
Art A1
29. April 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010046997
- Aktenzeichen
- EP08877563
- Anmeldetag
- 24. Oktober 2008
- Veröffentlichung
- 29. April 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/822H01L21/8247H01L27/04H01L29/788H01L29/792
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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