Method, apparatus, program and system for analyzing operation of semiconductor integrated circuit

WO2010050188 Art A1 6. Mai 2010

Anmelder: NEC Corporation, Renesas Electronics Corporation, Nec Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010050188
Aktenzeichen: EP09823301
Anmeldetag: 27. Oktober 2009
Veröffentlichung: 6. Mai 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: NEC Corporation
Renesas Electronics Corporation
Nec Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

19.509 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Renesas Electronics

Japanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Tokio, spezialisiert auf Mikrocontroller, analoge Bauelemente und Halbleiterlösungen unter anderem für die Automobil- und Industrieelektronik.

1.103 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von