Device, method and probe for inspecting substrate

WO2010050613 Art A1 6. Mai 2010

Anmelder: IBIDEN CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010050613
Aktenzeichen: EP09823721
Anmeldetag: 28. Oktober 2009
Veröffentlichung: 6. Mai 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/067

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: IBIDEN CO., LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Ibiden

Ibiden ist ein japanischer Hersteller elektronischer Materialien mit Sitz in Ogaki, spezialisiert auf IC-Substrate für Halbleiter sowie Keramikprodukte für die Automobil- und Elektronikindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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