Data processing circuit with run-time diagnostic monitor circuit

WO2010052678 Art A1 14. Mai 2010

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010052678
Aktenzeichen: EP09756188
Anmeldetag: 9. November 2009
Veröffentlichung: 14. Mai 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/22

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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