Device abnormality diagnosis method and system

WO2010058765 Art A1 27. Mai 2010

Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010058765
Aktenzeichen: EP09827546
Anmeldetag: 17. November 2009
Veröffentlichung: 27. Mai 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/30G05B23/02G06F11/22G06F11/34

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi

Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung Steuerungs- & Regelungstechnik

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