Method for measuring scattering absorber and device for measuring scattering absorber
WO2010061673
Art A1
3. Juni 2010
Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010061673
- Aktenzeichen
- EP09828922
- Anmeldetag
- 1. September 2009
- Veröffentlichung
- 3. Juni 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/17A61B10/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hamamatsu Photonics K.K.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hamamatsu Photonics
Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.
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Vertreten von
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