Testing apparatus and testing method
WO2010067482
Art A1
17. Juni 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010067482
- Aktenzeichen
- EP09831591
- Anmeldetag
- 7. Juli 2009
- Veröffentlichung
- 17. Juni 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04L29/14
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
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