Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and switch circuit
WO2010070824
Art A1
24. Juni 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010070824
- Aktenzeichen
- EP09833134
- Anmeldetag
- 30. November 2009
- Veröffentlichung
- 24. Juni 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L27/095H01L21/338H01L21/8232H01L27/06H01L29/06H01L29/778H01L29/78H01L29/812
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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