Sample holder for x-ray microanalysis using scanning electron microscopy

WO2010072875 Art A1 1. Juli 2010

Anmelder: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) 🇪🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010072875
Aktenzeichen: EP09834162
Anmeldetag: 17. Dezember 2009
Veröffentlichung: 1. Juli 2010
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Land: 🇪🇸 Spanien

🇪🇸 Consejo Superior de Investigaciones Científicas

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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