Timing generator, test device, and test rate control method
WO2010073458
Art A1
1. Juli 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010073458
- Aktenzeichen
- EP09834275
- Anmeldetag
- 29. Oktober 2009
- Veröffentlichung
- 1. Juli 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H03K3/02G01R31/28H03K5/13
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.