Switch device and testing device

WO2010073489 Art A1 1. Juli 2010

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010073489
Aktenzeichen: EP09834305
Anmeldetag: 30. November 2009
Veröffentlichung: 1. Juli 2010
Rechtsraum: WO
IPC: H03K17/28G01R31/28H03K5/13

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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