Liquid crystal array inspection device and liquid crystal array inspection device signal processing method
WO2010079607
Art A1
15. Juli 2010
Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010079607
- Aktenzeichen
- EP09837495
- Anmeldetag
- 9. Januar 2009
- Veröffentlichung
- 15. Juli 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/225G01R31/00G01M11/00G09F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shimadzu Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shimadzu
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.
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