Method and program for detecting characteristics of device under test (dut) and storage medium containing the program
WO2010082330
Art A1
22. Juli 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010082330
- Aktenzeichen
- EP09838300
- Anmeldetag
- 15. Januar 2009
- Veröffentlichung
- 22. Juli 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28G01R31/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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