Equi-biaxial flexure test device for thin and ultra-thin semiconductor wafers and other wafers

WO2010082977 Art A1 22. Juli 2010

Anmelder: University of Utah Research Foundation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2010082977
Aktenzeichen
EP09838551
Anmeldetag
30. November 2009
Veröffentlichung
22. Juli 2010
Rechtsraum
WO
IPC
G01B7/16
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
University of Utah Research Foundation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 University of Utah Research Foundation

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