Pantograph height measuring device and calibration method therefor

WO2010084920 Art A1 29. Juli 2010

Anmelder: Meidensha Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010084920
Aktenzeichen: EP10733527
Anmeldetag: 21. Januar 2010
Veröffentlichung: 29. Juli 2010
Rechtsraum: WO
IPC: B60L5/26G01B11/02G06T1/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Meidensha Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Meidensha

Meidensha ist ein japanischer Hersteller elektrischer Anlagen und Maschinen, unter anderem für Energieversorgung, Bahntechnik und Industrieanwendungen. Das Patentportfolio konzentriert sich auf elektrische Energietechnik sowie Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter und elektrische Bauelemente. Anmeldungen laufen durchgehend von 2004 bis 2025.

646 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff) Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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