A fast spectral method to measure emissivity in a partially-controlled environment using a focal plane array infrared camera

WO2010089627 Art A1 12. August 2010

Anmelder: Flir Systems, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010089627
Aktenzeichen: EP09785913
Anmeldetag: 5. Februar 2009
Veröffentlichung: 12. August 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01J5/60

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Flir Systems, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Flir Systems

Flir Systems war ein US-amerikanischer Hersteller von Wärmebildkameras und Sensortechnik, heute Teil des Teledyne-Konzerns. Der Patentbestand konzentriert sich auf Nachrichtentechnik sowie Mess- und Softwaretechnik für Bildgebung und Inspektionssysteme.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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