Total internal reflection microscope apparatus and method for analyzing fluorescent sample

WO2010089829 Art A1 12. August 2010

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010089829
Aktenzeichen: EP09839607
Anmeldetag: 30. November 2009
Veröffentlichung: 12. August 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/64G01N21/01

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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