Nonvolatile semiconductor memory device and fabrication method therefor

WO2010090187 Art A1 12. August 2010

Anmelder: Kabushiki Kaisha Toshiba 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2010090187
Aktenzeichen
EP10738519
Anmeldetag
2. Februar 2010
Veröffentlichung
12. August 2010
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/8247H01L21/314H01L21/316H01L21/8242H01L27/108H01L27/115H01L29/78H01L29/788H01L29/792
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Kabushiki Kaisha Toshiba
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Toshiba

Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.

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