Electron microscope, and specimen holding method

WO2010097858 Art A1 2. September 2010

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010097858
Aktenzeichen: EP09840712
Anmeldetag: 15. Oktober 2009
Veröffentlichung: 2. September 2010
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/20H01L21/66H01L21/683

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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