Contour definition device and contour definition method, and program
WO2010098211
Art A1
2. September 2010
Anmelder: Riken 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010098211
- Aktenzeichen
- EP10746092
- Anmeldetag
- 10. Februar 2010
- Veröffentlichung
- 2. September 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/64G06T1/00G06T7/60
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Riken
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
RIKEN
Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.
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