Device for measuring deformation of structures and a deformation-measuring method for structures employing the same
WO2010098647
Art A2
2. September 2010
Anmelder: Industry-Academic Cooperation Foundation, Yonsei University, Technovalue Co., Ltd 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010098647
- Aktenzeichen
- EP10746486
- Anmeldetag
- 2. März 2010
- Veröffentlichung
- 2. September 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C09D5/23G01B21/32
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Industry-Academic Cooperation Foundation, Yonsei University
Technovalue Co., Ltd - Land
- 🇰🇷 Südkorea
🇰🇷
Industry-Academic Cooperation Foundation, Yonsei University
Technologietransfer- und Patentverwertungsstelle der Yonsei University in Südkorea, verwaltet Erfindungen aus der universitären Forschung.
913 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.