Glass substrate orientation inspection methods and systems for photo voltaics production

WO2010099455 Art A2 2. September 2010

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010099455
Aktenzeichen: EP10746921
Anmeldetag: 26. Februar 2010
Veröffentlichung: 2. September 2010
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66H01L21/677G01N33/20C03C17/00G01B21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Applied Materials, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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Fachgebiete

Anorganische Chemie & Werkstoffe Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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