Method and device for determining specific heat capacity and semispherical total emissivity of conductive sample

WO2010101006 Art A1 10. September 2010

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010101006
Aktenzeichen: EP10748603
Anmeldetag: 10. Februar 2010
Veröffentlichung: 10. September 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01N25/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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