Systems and methods for determining one or more characteristics of a specimen using radiation in the terahertz range
WO2010104799
Art A2
16. September 2010
Anmelder: KLA-Tencor Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010104799
- Aktenzeichen
- EP10751247
- Anmeldetag
- 8. März 2010
- Veröffentlichung
- 16. September 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KLA-Tencor Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
KLA Corporation
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
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