Method for measuring characteristic of object to be measured, structure causing diffraction phenomenon, and measuring device

WO2010110415 Art A1 30. September 2010

Anmelder: Murata Manufacturing Co., Ltd., National University Corporation Tohoku University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010110415
Aktenzeichen: EP10756211
Anmeldetag: 26. März 2010
Veröffentlichung: 30. September 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/01G01N21/35G01N21/47G01N33/566G01N35/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Murata Manufacturing Co., Ltd.
National University Corporation Tohoku University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Murata Manufacturing

Japanisches Elektronikunternehmen mit Sitz in Kyoto. Murata entwickelt und produziert elektronische Bauelemente wie Kondensatoren, Sensoren und Kommunikationsmodule für Elektronikgeräte.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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