Connection quality verification for integrated circuit test

WO2010112976 Art A2 7. Oktober 2010

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010112976
Aktenzeichen: EP09842557
Anmeldetag: 31. März 2009
Veröffentlichung: 7. Oktober 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/02G01R31/307G01R19/165

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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