Two-dimensional measuring instrument and two-dimensional measuring method

WO2010113756 Art A1 7. Oktober 2010

Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha, V Technology Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2010113756
Aktenzeichen
EP10758529
Anmeldetag
25. März 2010
Veröffentlichung
7. Oktober 2010
Rechtsraum
WO
IPC
G01B11/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Sharp Kabushiki Kaisha
V Technology Co., Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

22.800 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 V Technology

V Technology ist ein japanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für Displays und Halbleiter. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Optik und Fototechnik, ergänzt um Fertigungs- und Messtechnik. Anmeldungen laufen von 2005 bis in die Gegenwart.

349 Patente in unserer Datenbank

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