High pressure rf-dc sputtering and methods to improve film uniformity and step-coverage of this process
WO2010115128
Art A2
7. Oktober 2010
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010115128
- Aktenzeichen
- EP10759494
- Anmeldetag
- 2. April 2010
- Veröffentlichung
- 7. Oktober 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/203C23C14/34
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
10.783 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.