Apparatus and method for measuring semiconductor

WO2010119507 Art A1 21. Oktober 2010

Anmelder: Pioneer Corporation, Pioneer Fa Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010119507
Aktenzeichen: EP09843288
Anmeldetag: 14. April 2009
Veröffentlichung: 21. Oktober 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Pioneer Corporation
Pioneer Fa Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Pioneer

Japanisches Elektronikunternehmen mit Sitz in Tokio. Pioneer ist bekannt für Unterhaltungselektronik, Car-Audio- und Navigationssysteme sowie Displaytechnologien und Audio- und Videotechnik.

5.875 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von