Surface microstructure measuring method, surface microstructure measurement data analyzing method, and x-ray scattering measuring device

WO2010119844 Art A1 21. Oktober 2010

Anmelder: Rigaku Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010119844
Aktenzeichen: EP10764428
Anmeldetag: 12. April 2010
Veröffentlichung: 21. Oktober 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G01B15/04G01N23/201

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Rigaku Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Rigaku

Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.

281 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von