Memory testing with snoop capabilities in a data processing system

WO2010120449 Art A2 21. Oktober 2010

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010120449
Aktenzeichen: EP10764820
Anmeldetag: 23. März 2010
Veröffentlichung: 21. Oktober 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/07G06F12/02G06F9/06G06F13/14

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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