Correction device, probability density function measuring device, jitter measuring device, jitter separating device, electronic device, correction method, program, and recording medium
WO2010122748
Art A1
28. Oktober 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2010122748
- Aktenzeichen
- EP10766810
- Anmeldetag
- 15. April 2010
- Veröffentlichung
- 28. Oktober 2010
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R29/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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