Method and apparatus for characterizing a multilayered structure

WO2010123698 Art A1 28. Oktober 2010

Anmelder: The Government of the United States of America as represented by the Secretary of the Navy 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2010123698
Aktenzeichen: EP10767513
Anmeldetag: 9. April 2010
Veröffentlichung: 28. Oktober 2010
Rechtsraum: WO
IPC: G02B6/34

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: The Government of the United States of America as represented by the Secretary of the Navy
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 The Government of the United States of America As Represented By the Secretary of the Navy

Dieser Anmelder steht für Patente der US-Marine, angemeldet über die Regierung der Vereinigten Staaten. Das Patentportfolio deckt breit Halbleiterbauelemente, Mess- und Prüftechnik sowie Optik- und Fototechnik für militärische und maritime Forschung ab. Anmeldungen sind seit 2000 dokumentiert.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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